Microscoape Electronice si accesorii

Microscoape electronice

cu scanare - SEM

  • SEM TableTop

    • ​TM4000 II plus

  • SEM Tungsten

    • FlexSEM 1000 II

    • SU3800 & SU3900

  • FE-SEM Schottky

    • SU5000

    • SU7000

  • FE-SEM Cold Field Emission

    • Regulus SU8100 & SU8200 series

    • SU9000

Sisteme Hitachi

pentru pregatire probe

  • Mori Ionice pentru polisare si sectionare

    • IM4000Plus

    • ArBlade 5000

  • Decontaminare probe SEM si TEM

    • ZoneSEM II

    • ZoneTEM II

Microscoape electronice

cu transmisie - TEM/STEM

  • TEM/STEM 120 kV

    • HT7800

  • STEM 200 kV

    • HD-2700

  • TEM/STEM 200kV

    • HF5000

  • TEM/STEM 300 kV

    • HF-3300

    • H-9500

FIB -  Dual and Triple Focused Ion Beam

  • Triple Beam

    • NX2000

    • NX5000

  • Real-Time 3D analytical FIB

    • NX9000

34 de ani de SEM inlens Hitachi

In 1986 Hitachi a lansat modelul S-900, primul microscop FE-SEM inlens comercial din lume. Cu o rezolutie de 0.8nm SE  si o marire utilizabila de pana la 800.000x, acest nou concept a deschis o lume noua pentru cercetatori in multe domenii, dupa cum se vede in imaginile de mai jos ("T4 phage" apartinand lui Rene Herrmann si Martin Müller, ETH Zurich)

NANOTEAM / T 021.668.68.19 / F 021.668.69.30 / office@nanoteam.ro / © Toate drepturile rezervate.