Microscoape Electronice si accesorii
Microscoape electronice
cu scanare - SEM
-
SEM TableTop
-
TM4000 II plus
-
-
SEM Tungsten
-
FlexSEM 1000 II
-
SU3800 & SU3900
-
-
FE-SEM Schottky
-
SU5000
-
SU7000
-
-
FE-SEM Cold Field Emission
-
Regulus SU8100 & SU8200 series
-
SU9000
-
Sisteme Hitachi
pentru pregatire probe
-
Mori Ionice pentru polisare si sectionare
-
IM4000Plus
-
ArBlade 5000
-
-
Decontaminare probe SEM si TEM
-
ZoneSEM II
-
ZoneTEM II
-
Microscoape electronice
cu transmisie - TEM/STEM
-
TEM/STEM 120 kV
-
HT7800
-
-
STEM 200 kV
-
HD-2700
-
-
TEM/STEM 200kV
-
HF5000
-
-
TEM/STEM 300 kV
-
HF-3300
-
H-9500
-
FIB - Dual and Triple Focused Ion Beam
-
Triple Beam
-
NX2000
-
NX5000
-
-
Real-Time 3D analytical FIB
-
NX9000
-
34 de ani de SEM inlens Hitachi
In 1986 Hitachi a lansat modelul S-900, primul microscop FE-SEM inlens comercial din lume. Cu o rezolutie de 0.8nm SE si o marire utilizabila de pana la 800.000x, acest nou concept a deschis o lume noua pentru cercetatori in multe domenii, dupa cum se vede in imaginile de mai jos ("T4 phage" apartinand lui Rene Herrmann si Martin Müller, ETH Zurich)
