Microscoape Electronice cu Scanare - SEM

SEM Table Top si Tungsten

TM4000 II / TM4000plus II

  • Marire

    • ​10× - 100,000× (foto)

    • 25× - 250,000× (monitor)

  • Dimensiuni maxime probe

    • 80 mm diametru​

    • 50 mm inaltime

  • Toti detectorii functioneaza si in mod VP (probe izolatoare fara acoperire cu metale sau carbon)

  • Tensiuni de accelerare

    • 5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV

  • Imagistica 

    • SE - electroni secundari

    • BSE - electroni retroimprastiati

    • MIX (SE+BSE)

    • STEM (transmisie)

    • Catodoluminiscenta

    • Video-camera color integrata pentru navigare pe proba

    • Suprapunere imagini SEM peste imaginile optice

  • Analiza elementala (EDX)

    • Detector EDX 30mm2

    • EDX suprapus peste SE sau BSE

    • Oxford Instruments sau Bruker

  • Nivele vacuum

    • Conductor

    • Standard

    • Reducere incarcare electrostatica (probe izolatoare neacoperite)

FlexSEM 1000 II VP SEM

  • SEM-ul compact FlexSEM 1000 II ofera analize SEM complete, inclusiv EDX atat in vacuum inalt cat si VP pentru probe neconductoare. Si toate acestea intr-un sistem de dimensiuni reduse ce necesita din partea utilizatorului doar o priza normala de 230 V, neavand nevoie de sistem de racire sau compresor.

  • Rezolutie: 4 nm

  • Marire: ​800,000×

  • Tensiuni de accelerare: 0.3 – 20 kV

  • Detectori 

    • SE -  in vacuum inalt

    • UVD - SE in VP

    • BSE - in vacuum inalt si VP

    • STEM (transmisie)

    • Contrast in catodoluminiscenta

  • Analiza elementala (EDX)

    • Detector EDX

    • EDX suprapus peste SE sau BSE

    • Oxford Instruments, Bruker sau EDAX

​​

  • Nivele vacuum

    • Vacuum inalt

    • VP (variable pressure): 6 - 100 Pa, pentru probe neconductoare

  • Stage Motorizat sau manual

  • Video-camera color (Camera navigation system)

SU3800 & SU3900 VP SEM

  • Microscoapele electronice SU3800 si SU3900 sunt concepute pentru performanta inalta, usurinta in exploatare, automatizare si posibilitatea de a fi echipate cu un numar exstinsde accesorii. Modelul SU3900 ofera aceleasi performante si capacitati analitice ca si modelul SU3800, insa avand o camera ce permite analiza probelor de mari dimensiuni.

  • Rezolutie: 3 nm

  • Marire: 

    • ×5 - ×300,000

    • ×7 to ×800,000 (pe monitor)​​

  • Dimensiuni maxime probe

    • Φ 200 mm - SU3800​

    • Φ 300 mm - SU3900

 

  • Tensiuni de accelerare: 0.3 – 30 kV

  • Detectori 

    • SE -  in vacuum inalt

    • UVD - SE in VP

    • BSE - in vacuum inalt si VP

    • STEM (transmisie)

    • Contrast in catodoluminiscenta

  • Analiza elementala si structurala (EDX, WDX, EBSD)

    • Oxford Instruments, Bruker, Thermo sau EDAX

​​

  • Nivele vacuum

    • Vacuum inalt

    • VP (variable pressure): 6 - 650 Pa, pentru probe neconductoare

 

  • Video-camera color​​ (Camera navigation system)

 
 
FE-SEM Schottky

SU5000 VP FE-SEM

  • SU5000 VP FE-SEM este un microscop analitic cu tranzitie extrem de simpla si rapida intre modurile vacuum inalt si VP pentru materiale neconductoare. Systemul EM Wizard implementat in acest model asigura obtinerea automata de imagini de inalta calitate, automatizarea trecand mult dincolo de autofocus sau autocontrast. Dupa ce utilizatorul ofera cateva caracteristici ale probei, sistemul se configureaza automat astfel incat conditiile de vizualizare (tensiune de accelerare, nivel vacuum, distanta de lucru, curent de proba... etc) precum si detectorii utilizati sa ofere performante optime atat ca rezolutie cat si din punct de vedere al contrastului topografic, de material, de cristalinitate sau catodoluminiscenta. Evident, utilizatorii experimentati au acces la interfata ce permite modificarea tuturor parametrilor de achizitie.

  • Rezolutie: 1.2 nm

  • Dimensiuni maxime probe

    • Φ 200 mm / 80 mm H

  • Tensiuni de accelerare / aterizare: 0.1 – 30 kV

  • Optional modul decelerare

  • Detectori 

    • SE

    • Multizonal BSE

    • low-vacuum SE (VP)

    • In-Lens detectors

    • STEM (transmisie)

    • Contrast in catodoluminiscenta

  • Analiza elementala si structurala (EDX, WDX, EBSD)

    • Oxford Instruments, Bruker, Thermo sau EDAX

 

  • Gama larga de accesorii

    • Heating, cooling, cryo, 3View, STEM, SECOM, CL, Raman, plasma cleaner, ...

  • Nivele vacuum

    • Vacuum inalt

    • VP (variable pressure): 10 - 300 Pa, pentru probe neconductoare

  • Video-camera color (Camera navigation system)

SU7000 UHR VP FE-SEM

  • SU7000 permite achizitia simultana a multiplelor tipuri de electroni SE si BSE. Avand capacitatea de a achizitiona in acelasi timp si de pe aceiasi zona a probei a pana la 6 semnale si deci a tot atatora tipuri/mecanisme de contrast, SU7000 este de departe cel mai modern SEM UHR cu sursa de electroni de tip Schottky FE de pe piata.

  • Decelerare:

    • in coloana fara polarizarea probei (materiale magnetice si/sau rugoase)

    • prin polarizarea probei

  • Rezolutie: 0.8 nm

  • Marire: 

    • 20~2,000,000 x

  • Dimensiuni maxime probe

    • Φ 200 mm / 80 mm H

 

  • Tensiuni de accelerare: 0.1 – 30 kV in pasi de 10V

  • Detectori 

    • 2 x detectori in coloana (in-lens: UD, MD)

    • 3 detectori in camera (LD, UVD, PD-BSE)

    • STEM (transmisie)

    • Catodoluminiscenta

 

  • Detectori SEM operabili in VP (probe neconductoare)

    • PD-BSED, UVD, UD, MD

  • Analiza elementala si structurala (EDX, WDX, EBSD)

    • Oxford Instruments, Bruker, Thermo sau EDAX

​​

  • Nivele vacuum

    • Vacuum inalt

    • VP (variable pressure): 5 - 300 Pa, pentru probe neconductoare

 

  • Video-camera color​​ (Camera navigation system)

FE-SEM Cold Field Emission

Regulus SU8100 & SU8200 UHR CFE-SEM

  • Rezolutie: 0.6 nm​ in SEM, < 0.4 nm in STEM (lattice resolution)

SU9000 UHR In-Lens CFE-SEM

  • low-voltage EELS si difractie de electroni

  • Rezolutie atomica in STEM la 30 kV

  • Rezolutie SEM: 0.4 nm, nativa fara decelerare

 

NANOTEAM / T 021.668.68.19 / F 021.668.69.30 / office@nanoteam.ro / © Toate drepturile rezervate.